特許

J-GLOBAL ID：200903086933741394

分光分析装置

発明者： 植村 健
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-189862
公開番号（公開出願番号）：特開2002-005837
出願日： 2000年06月23日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：

【要約】【課題】 例えばICP発光の光源など、各測定成分によって異なる波長で位置的に異なる強度分布を有する光を最適に分光分析することにより、SN比を向上させることができる分光分析装置を提供する。【解決手段】 測定対象試料の各測定成分によって異なる波長の光を位置的に異なる強度分布を有して発生するプラズマ炎2aと、このプラズマ炎2aからの光を波長分光する回折格子6と、この回折格子6によって分光された各波長の光を検出するCCD光検出器8a〜8cと、このCCD光検出器8a〜8cにプラズマ炎2aからの光を結像する光学系Lとを有する。

請求項（抜粋）：

測定対象試料の各測定成分によって異なる波長の光を位置的に異なる強度分布を有して発生する光源と、この光源からの光を波長分光する分光器と、この分光器によって分光された各波長の光を検出するCTD光検出器と、このCTD光検出器に光源からの光を結像する光学系とを有することを特徴とする分光分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/73 ,  G01J 3/20

FI (2件)：

G01N 21/73 ,  G01J 3/20

Fターム (20件)：

2G020BA02 ,  2G020CA01 ,  2G020CB04 ,  2G020CC05 ,  2G020CC42 ,  2G020CD06 ,  2G020CD23 ,  2G020CD24 ,  2G020CD32 ,  2G020CD33 ,  2G020CD37 ,  2G043AA01 ,  2G043CA01 ,  2G043EA08 ,  2G043JA04 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043MA04 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-104243
  
• 潤滑油の硫酸灰分の推算方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-271986   出願人：株式会社コスモ総合研究所, コスモ石油株式会社
• ICP発光分光分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-104550   出願人：日本ジャーレル・アッシュ株式会社
• 特開平1-107119