特許

J-GLOBAL ID：200903087203227969

非接触式立体形状計測装置

発明者： 近津 博文 ,  横山 大
出願人/特許権者： 日立プラント建設株式会社
代理人 (1件)： 松浦 憲三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-350940
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183125
出願日： 1997年12月19日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：

【要約】【課題】立体形状物の表面を撮影した画像に奥行き情報を持たせることにより、立体形状物の3次元座標をリアルタイムに計測する非接触式立体形状計測装置を提供する。【解決手段】測定台12に計測対象物を載置し、光源14、16からスリット光を照射する。そして、測定台12をスリット光の幅ずつ移動させると共に、各移動位置においてそのスリット光によって照明された画像をCCDカメラ20によって順次撮影する。そして、各画像の明るい点の位置から計測対象物の表面の平面座標を求め、測定台12の移動位置から各画像の奥行き方向の座標を求める。これにより、計測対象物表面の3次元座標を求めることができる。また、上記撮影した各画像を光量調整して合成することにより、光量不足に起因する画像の欠落がない1枚の外観画像を得ることができる。

請求項（抜粋）：

所定の測定面と同一平面のスリット光を計測対象物に照射する照明手段と、前記測定面に対して垂直方向に前記計測対象物を移動させる移動手段と、前記計測対象物の移動位置を検出する位置検出手段と、前記測定面に対して垂直方向から撮像し、前記スリット光によって前記計測対象物の表面にライン状に現れるライン光をライン画像として取り込む撮像手段と、前記計測対象物が前記移動手段によって所定間隔移動する毎に前記撮像手段によって得た各ライン画像に基づいて前記測定面上における各ライン画像の平面座標を算出し、前記位置検出手段によって検出した前記計測対象物の各移動位置及び各ライン画像毎に算出した前記平面座標に基づいて前記計測対象物の表面の3次元データを算出する3次元データ算出手段と、からなることを特徴とする非接触式立体形状計測装置。

IPC (4件)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00 ,  G06T 1/00

FI (4件)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 K ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/64 M

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 物体形状計測法およびその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-034566   出願人：森本吉春
• 特開平3-138507
  
• 画像合成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-257738   出願人：オリンパス光学工業株式会社