特許

J-GLOBAL ID：200903087276010020

座標変換装置及び座標変換方法

発明者： 森永 裕之
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-070490
公開番号（公開出願番号）：特開2002-269996
出願日： 2001年03月13日
公開日（公表日）： 2002年09月20日
要約：

【要約】【課題】 作成者の簡単な操作だけでFBMアドレス系からFBM物理座標系の変換プログラムを誰にでも短時間且つ容易に作成でき、その上、作成された変換プログラムの検証を効率的且つ高精度で行うこと。【解決手段】 前記半導体装置を構成するメモリセルの物理的配置をパターン化し、前記得られたパターンを用いて座標変換プログラムを作成する。又、前記変換プログラムにより得られた前記FBM物理座標を更にレイアウト座標系に変換して、前記メモリセルの構成を示したレイアウトと同一画面に重ねて表示することにより、目視でFBM物理座標の良否を検証する。

請求項（抜粋）：

半導体装置を構成するメモリセルのFBM物理アドレスをFBM物理座標に変換する変換手段を作成する座標変換装置において、前記メモリセルの物理的配置をパターン化する機能と、前記得られたパターンを用いて前記変換手段を作成する機能と、を具備することを特徴とする座標変換装置。

IPC (4件)：

G11C 29/00 655 ,  G01R 31/28 ,  G06T 1/00 305 ,  G06F 17/50 652

FI (4件)：

G11C 29/00 655 D ,  G06T 1/00 305 A ,  G06F 17/50 652 C ,  G01R 31/28 B

Fターム (27件)：

2G132AA08 ,  2G132AC03 ,  2G132AC10 ,  2G132AE23 ,  2G132AL09 ,  2G132AL11 ,  2G132AL12 ,  5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B046DA05 ,  5B046FA10 ,  5B046GA01 ,  5B046JA02 ,  5B057AA03 ,  5B057CA12 ,  5B057CA17 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC04 ,  5B057CD20 ,  5B057CE08 ,  5B057DA04 ,  5B057DB02 ,  5B057DC32 ,  5L106DD25 ,  5L106DD26 ,  5L106GG06

引用特許：

審査官引用 (2件)

• メモリLSI検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-051134   出願人：日本電気株式会社
• 特開平4-289477