特許
J-GLOBAL ID：200903087278141962
クランクシャフトミラーのインターナルカッタ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
浜本 忠 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-117430
公開番号（公開出願番号）：特開2000-308914
出願日： 1999年04月26日
公開日（公表日）： 2000年11月07日
要約：
【要約】【課題】 クランクシャフトミラーよりカッタ本体を取外して、チップの振れ精度を測定しているため、測定に時間がかかって、クランクシャフトミラーの稼動率が低下する。【解決手段】 リング状に形成されたカッタ本体1の内周面両側に、ワークにアンダカット溝を加工する複数のチップ2を幅方向に間隔を存して2列に取付けたクランクシャフトミラーのインターナルカッタにおいて、上記カッタ本体1の内周面及び側面の少なくとも一方に、上記クランクシャフトミラーにカッタ本体1を取付けた状態でチップ2の振れ精度が測定できる測定基準4を設けたもので、ワーク加工中にチップが摩耗したり、欠損して所定の加工精度が得られなくなった場合、クランクシャフトミラーよりカッタ本体1を取付けた状態で、カッタ本体1の測定基準4を使用して、チップ2の振れ精度が測定できるため、振れ測定が短時間で行え、これによってクランクシャフトミラーの稼動率が上るため、生産性の向上が図れる。
請求項（抜粋）：
リング状に形成されたカッタ本体(1)の内周面両側に、ワークにアンダカット溝を加工する複数のチップ(2)を幅方向に間隔を存して2列に取付けたクランクシャフトミラーのインターナルカッタにおいて、上記カッタ本体(1)の内周面及び側面の少なくとも一方に、上記クランクシャフトミラーにカッタ本体(1)を取付けた状態でチップ(2)の振れ精度が測定できる測定基準(4)を設けたことを特徴とするクランクシャフトミラーのインターナルカッタ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
前のページに戻る
