特許
J-GLOBAL ID：200903087340041805
X線回折を用いた結晶の観察方法及びその観察装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-089382
公開番号（公開出願番号）：特開2002-286660
出願日： 2001年03月27日
公開日（公表日）： 2002年10月03日
要約：
【要約】【課題】 直線状に数度の入射角をもつX線と二次元X線検出器を採用することによって、X線回折の原理により結晶を高速に観察することができるX線回折を用いた結晶の観察方法及びその観察装置を提供する。【解決手段】 X線を観察したい結晶に照射し、その回折X線をX線検出器で検出するX線回折を用いた結晶の観察方法において、湾曲モノクロメータ3を用いて回折X線の入射角に有限の角度を持たせて、その回折X線を前記結晶6上に直線状に集光し、二次元X線検出器7を用いることによって、有限の回折角度にわたって前記結晶6の直線状の回折X線を同時に測定することにより、X線回折強度を空間的にマッピングし、前記結晶6を評価する。
請求項（抜粋）：
X線を観察したい結晶に照射し、その回折X線をX線検出器で検出するX線回折を用いた結晶の観察方法において、湾曲モノクロメータを用いて回折X線の入射角に有限の角度を持たせて、該回折X線を前記結晶上に直線状に集光し、二次元X線検出器を用いることによって、前記有限の回折角度にわたって前記結晶の直線状の回折X線を同時に測定することにより、X線回折強度、回折角度及び半値幅を空間的にマッピングし、前記結晶を評価することを特徴とするX線回折を用いた結晶の観察方法。
Fターム (20件)：
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001EA01
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001GA13
, 2G001HA01
, 2G001JA04
, 2G001JA08
, 2G001KA08
, 2G001MA05
, 2G001PA11
, 2G001PA12
, 2G001RA08
, 2G001SA01
, 2G001SA04
, 2G001SA07
