特許
J-GLOBAL ID：200903087482964013

物品の変形度の評価方法及びそのシステム

発明者：
中村 吉孝

中村 吉孝 について

, 
貴船 宏子

貴船 宏子 について


出願人/特許権者：
三井化学株式会社

三井化学株式会社 について


代理人 (1件)： 佐藤 晃一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-315893
公開番号（公開出願番号）：特開平10-160454
出願日： 1996年11月27日
公開日（公表日）： 1998年06月19日
要約：
【要約】【目 的】 変形形状が同じであれば、同じ評価が得られ、しかも変形状態を本質的にかつ容易に把握できるような変形度の絶対的な評価方法のシステムを提供する。【構 成】 対象物品9の三次元位置を計測するレーザ走査装置12と、このレーザ走査装置12の検出信号と走査位置に関する信号を入力して走査位置の座標点を算出する画像情報算出手段14と、算出した座標情報を格納する画像情報記憶手段15と、画像情報記憶手段17に格納された物品の画像情報より節点を抽出する節点抽出手段21と、節点の座標情報から最小二乗法により回帰平面を求める回帰平面算出手段22と、得られた回帰平面との距離より対象物品の変形度を算出する変形度算出手段23とよりなる。
請求項（抜粋）：
対象物品の変形度を求めようとする部分から選んだ複数の節点について、各節点の座標を取出し、これより最小二乗法にて回帰直線、回帰平面、回帰円又は回帰球面を算出したのち、回帰直線、回帰平面、回帰円又は回帰球面からの各節点の変位量を求め、ついで-側の最大値と+側の最大値を選び、その絶対値の和から上記物品の変形度を求めようとする部分の変形度を評価する方法。
引用特許：
審査官引用 (3件)

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