特許
J-GLOBAL ID：200903087601726363

X線撮像装置、及び、これに用いるX線源

発明者：
百生 敦

百生 敦 について


出願人/特許権者：
国立大学法人 東京大学

国立大学法人 東京大学 について


代理人 (1件)： 成瀬 重雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-038181
公開番号（公開出願番号）：特開2009-195349
出願日： 2008年02月20日
公開日（公表日）： 2009年09月03日
要約：
【課題】X線タルボ・ロー干渉計による高感度X線撮像法において、マルチスリットの設置を省略できるX線源及びそれを用いたX線撮像装置を提供する。【解決手段】X線源10は、基板11と、複数のストライプ部12とを備える。複数のストライプ部12は、基板11の表面上に配置されている。かつ、複数のストライプ部12は、互いに間隔を置いて配置されている。さらに、複数のストライプ部の配置間隔dsは、ほぼ一定とされている。基板11又はストライプ部12のうちのいずれか一方は、励起ビームの照射によって必要量のX線を発生する金属とされている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
X線源と、励起ビーム源と、第一格子と、第二格子と、X線画像検出器とを備えており、 前記X線源は、基板と、複数のストライプ部とを備えており、 前記複数のストライプ部は、前記基板の表面上に配置されており、 かつ、前記複数のストライプ部は、互いに間隔を置いて配置されており、 さらに、前記複数のストライプ部の配置間隔は、ほぼ一定とされており、 前記基板又は前記ストライプ部のうちのいずれか一方は、前記励起ビーム源からの励起ビームの照射によって必要量のX線を発生する材質とされており、 前記励起ビーム源は、前記基板の表面へ前記励起ビームを照射する構成となっており、 前記第一格子は、前記X線源から発生したX線を回折する構成となっており、 前記第二格子は、前記第一格子で回折したX線を回折する構成となっており、 前記X線画像検出器は、前記第二格子で回折したX線を検出する構成となっている ことを特徴とするX線撮像装置。
IPC (3件)：
A61B 6/00 ,  H05G 1/00 ,  G01N 23/04
FI (3件)：
A61B6/00 300A ,  H05G1/00 E ,  G01N23/04
Fターム (16件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001LA01 ,  4C092AA01 ,  4C092AB27 ,  4C092AC01 ,  4C092AC08 ,  4C092BD05 ,  4C092BD09 ,  4C092BD15 ,  4C093AA07 ,  4C093CA04 ,  4C093EA20
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM