特許
J-GLOBAL ID：200903087635611379
集積回路の試験方法および試験装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-050790
公開番号（公開出願番号）：特開平10-247208
出願日： 1997年03月05日
公開日（公表日）： 1998年09月14日
要約：
【要約】【課題】 ファンクションテスト用の機能テストパターンをIDDQテストに流用する場合に、トータルの試験時間の短縮と故障検出率の向上とを実現する。【解決手段】 故障シミュレータ3は、上記機能テストパターンを用いたシミュレーションにより、ファンクションテストでは検出できない未検出故障ポイントを抽出する。IDDQ故障検出条件設定部5は、該未検出故障ポイントをIDDQテストによれば検出可能とする論理値の組み合わせを求める。IDDQテストパターン選択部10は、論理シミュレーションの結果と、上記論理値の組み合わせとに基づいて、機能テストパターンの中から、条件を満たす必要最小限のテストステップを選択する。LSIテスタ13は、選択したテストステップではIDDQテストを行い、選択したテストステップ以外では論理機能テストを行う。
請求項（抜粋）：
論理値の組み合わせが互いに異なる複数のテストステップから構成された論理機能テスト用のテストパターンを、検査対象の集積回路の構成と集積回路上に設定した複数のテストポイントとに基づいて作成し、作成したテストパターンを用いたシミュレーションにより、上記テストポイントの中で故障を検出できない未検出故障ポイントを抽出し、該未検出故障ポイントについて、静止電源電流を測定したときにその故障を検出可能とする論理値の組み合わせを与えるテストステップを上記テストパターンから選択し、該未検出故障ポイントについては、静止電源電流を測定する一方、該未検出故障ポイント以外のテストポイントでは、論理機能テストを行うことを特徴とする集積回路の試験方法。
IPC (3件)：
G06F 17/50
, G01R 31/26
, G01R 31/28
G06F 15/60 672 D
, G01R 31/26 G
, G01R 31/26 B
, G01R 31/28 F
