特許
J-GLOBAL ID：200903087888567805

物質の1つまたはそれ以上の特性を定量的に決定する方法

発明者：
ピーター・ディルウィン・エヴァンス

ピーター・ディルウィン・エヴァンス について

, 
ニコラス・バーネット

ニコラス・バーネット について


出願人/特許権者：
ジョンソン・アンド・ジョンソン・メディカル・インコーポレイテッド

ジョンソン・アンド・ジョンソン・メディカル・インコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 田澤 博昭 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-240013
公開番号（公開出願番号）：特開平9-168531
出願日： 1996年08月23日
公開日（公表日）： 1997年06月30日
要約：
【要約】【課題】 近赤外線分光学を使用して物質の1つまたはそれ以上の特性を定量的に決定する。【解決手段】 少なくとも2つの異なる波長の光線によって物質の1カ所を照射するステップと、2カ所の位置で検出された光線の強度を測定するステップと、照射点と2カ所の検出位置の間の光線の光路長を決定するステップと、2カ所の位置に到達する光線の発散の効果を決定するステップとから構成される。2台の検出器の相対結合効率は、その2台の検出器から等距離の第二の放射点を使用することによって決定される。測定中の特性は、検出位置までの光路長と、検出器結合効率と、検出位置に到達する前の光線の発散の効果を考慮することにより調整した結果を用いて、検出位置で検出した光線強度により決定される。
請求項（抜粋）：
物質の光線吸収スペクルを測定することにより、その物質の1つまたはそれ以上の特性を定量的に決定する方法であって、1)少なくとも2つの異なる波長(λ1 ,λ2 )の光線によって物質上の1点を照射するステップと;2)2カ所の位置(D1,D2)で検出された光線(It1,It2)の強度を測定するステップと;3)照射点と前記2カ所の検出位置の間の光線の光路長を推定するステップと;4)前記2カ所の位置に到達する光線の発散の効果を求めるステップと;5)前記検出位置で検出された光線の強度に基づく特性を求めるステップと;6)前記検出位置までの光路長と、検出位置に到達する前の光線の発散の効果とを考慮することによって結果を調整するステップから構成されることを特徴とする方法。
IPC (2件)：
A61B 5/14 310 ,  A61B 10/00
FI (2件)：
A61B 5/14 310 ,  A61B 10/00 E
引用特許：
審査官引用 (4件)
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