特許

J-GLOBAL ID：200903088062349425

集積回路素子

発明者： 冨田 泰弘
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 宮井 暎夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-281512
公開番号（公開出願番号）：特開2000-111607
出願日： 1998年10月02日
公開日（公表日）： 2000年04月21日
要約：

【要約】【課題】 電源降圧回路を備えた微細CMOS集積回路素子において、トランジスタのリーク電流による大きなバックグラウンド電流に埋もれることなく、Iddqテストのために内部回路の電流を高速に測定する。【解決手段】 電源電流測定回路9Dを設け、この電源電流測定回路9Dによって2つの内部ブロック4の両測定電流の差分をとることにより、バックグラウンド電流をキャンセルし、欠陥電流のバックグラウンド電流に対するS/N比を改善する。

請求項（抜粋）：

第1の電源配線から第2の電源配線へ電源電圧を変換して電力を供給する電源電圧変換手段と、前記第2の電源配線に流れる電源電流を測定する電源電流測定回路とを備えたことを特徴とする集積回路素子。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G01R 31/26 G ,  G01R 31/26 B ,  G01R 31/28 V

Fターム (21件)：

2G003AA07 ,  2G003AB02 ,  2G003AB18 ,  2G003AF06 ,  2G003AG01 ,  2G003AH04 ,  2G032AA01 ,  2G032AA07 ,  2G032AB01 ,  2G032AC03 ,  2G032AD01 ,  2G032AD05 ,  2G032AD08 ,  2G032AE07 ,  2G032AE08 ,  2G032AE14 ,  2G032AF01 ,  2G032AG01 ,  2G032AG07 ,  2G032AK11 ,  2G032AK15

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 半導体集積回路およびそのテスト方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-094071   出願人：株式会社日立製作所