特許
J-GLOBAL ID：200903088525133028
光学ピックアップ及び/又は光ディスクのフォーカス特性測定装置、光学ピックアップ及び/又は光ディスクのフォーカス特性測定方法、光ディスクの記録及び/又は再生装置、並びに、光ディスクの記録及び/又は再生方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-258798
公開番号（公開出願番号）：特開平11-161978
出願日： 1998年09月11日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：
【要約】【課題】 簡単な回路で精度の高いフォーカス状態の特性を測定することができる光学ピックアップ及び/又は光ディスクのフォーカス特性測定装置等を提供する。【解決手段】 演算処理部12dは、オフセット供給回路23を制御してフォーカスサーボの制御信号にオフセット電圧を加える。この演算処理部12dは、レーザ光の合焦位置が所定のオフセット量だけずれた状態において、再生データのエラーレートを検出する。演算処理部12dは、オフセット電圧を順次変えて、以上の処理を繰り返し行い、エラーレートを検出する。演算処理部12dは、検出したデータに基づき、オフセット量に対するエラーレートの関係を2次曲線で近似する。この近似式から、最もエラーレートが小さくなるオフセット量を求める。
請求項（抜粋）：
光学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、光ディスクに照射するレーザ光の焦点位置を制御し、このレーザ光を光ディスクの記録面に合焦させるフォーカスサーボ制御手段と、光学ピックアップが有する光電変換部の出力に基づき、光ディスクに記録されたデータを再生する再生手段と、上記再生手段が再生したデータのエラーレートを検出するエラーレート検出手段と、上記フォーカスサーボ制御手段の制御量に所定のオフセット量を与えてレーザ光の焦点位置を変化させ、レーザ光の焦点位置を変化させた場合における再生したデータのエラーレートを上記エラーレート検出手段から取得し、レーザ光の各焦点位置に対するエラーレートの近似式に基づき、エラーレートが最も少なくなるレーザ光の焦点位置を求める測定手段とを備える光学ピックアップ及び/又は光ディスクのフォーカス特性測定装置。
IPC (7件)：
G11B 7/09
, G01M 11/00
, G11B 7/00 636
, G11B 7/085
, G11B 20/18 550
, G11B 20/18 572
, G11B 20/18
G11B 7/09 B
, G01M 11/00 T
, G11B 7/00 636 C
, G11B 7/085 B
, G11B 20/18 550 Z
, G11B 20/18 572 C
, G11B 20/18 572 F
