特許
J-GLOBAL ID：200903088699867012

測光測距用固体撮像装置

発明者：
高橋 秀和

高橋 秀和 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (2件)： 山下 穣平 ,  志村 博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-053468
公開番号（公開出願番号）：特開2004-264451
出願日： 2003年02月28日
公開日（公表日）： 2004年09月24日
要約：
【課題】ADコンバータ(ADC)内蔵のマイコンに適したスポット測光機能を搭載し、測光精度と動作速度を向上させ、チップサイズが小さく、かつ、低コストのスポット測光機能を搭載した測距用固体撮像装置を実現する。【解決手段】測光測距用固体撮像装置は、測距を行うためのフォトダイオード列とこれに蓄積された電荷量に応じたAF信号をマルチプレクサ(MPX)104を介してマイコン109のADコンバータ112に出力する駆動回路、検出回路、シフトレジスタを有するAF回路ブロック101と、測光を行うためのフォトダイオードを含みこれで光電変換されたAE信号をMPX104を介してマイコン109のADC112に出力するAE回路ブロック102とが同一半導体基板100上に形成され、AF回路ブロック101のモニタ信号(最大値信号)をスポットAE信号としてMPX104を介してマイコン109のADC112に出力する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
測距を行うための測距用光電変換素子列と、前記測距用光電変換素子列に蓄積された電荷量に応じた電圧信号を出力する電圧モニタ手段と、測光を行うための測光用光電変換素子を含み且つ該測光用光電変換素子にて光電変換された信号を第1の露出量検出用信号として出力する第1の露出量検出手段とが同一半導体基板上に形成されており、前記測距用光電変換素子列のモニタ信号を第2の露出量検出用信号として出力する第2の露出量検出手段を備えたことを特徴とする測光測距用固体撮像装置。
IPC (7件)：
G03B7/28 ,  G02B7/28 ,  G02B7/30 ,  G03B7/099 ,  G03B13/36 ,  H01L27/146 ,  H04N5/232
FI (7件)：
G03B7/28 ,  G03B7/099 ,  H04N5/232 J ,  G02B7/11 Z ,  H01L27/14 A ,  G02B7/11 A ,  G03B3/00 A
Fターム (24件)：
2H002DB01 ,  2H002DB20 ,  2H002GA54 ,  2H002HA04 ,  2H002HA14 ,  2H002HA21 ,  2H002HA26 ,  2H002ZA01 ,  2H011BA05 ,  2H011BB02 ,  2H011DA01 ,  2H051BB07 ,  2H051CB20 ,  2H051CB26 ,  4M118AA10 ,  4M118AB01 ,  4M118AB03 ,  4M118BA10 ,  4M118BA14 ,  4M118CA03 ,  4M118DD10 ,  4M118FA08 ,  5C022AB21 ,  5C022AB24
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (6件)
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