特許
J-GLOBAL ID:200903088724617336

計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高崎 芳紘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-098027
公開番号(公開出願番号):特開2007-267995
出願日: 2006年03月31日
公開日(公表日): 2007年10月18日
要約:
【課題】複数の画像間の座標系を統一することにより、断続的な撮影間の関連性を確保するようにしたX線断層撮影装置を提供する。【解決手段】被検者2の周囲を回転してX線3D画像を撮影するX線撮影手段1と、X線撮影手段の近傍に設置され、かつ被検者の可視光3D画像を撮影する可視光撮影手段13と、可視光撮影手段で得られた可視光3D画像を使用してX線撮影手段により撮影する被検者のX線撮影部位を位置決めするようにした計測装置であって、断続的に撮影された複数の可視光3D画像から撮影部位の特徴量を抽出して被検者の解剖学的な座標系を決定する手段と、得られた解剖学的座標系を基に、可視光3D画像と同時に撮影されたX線3D画像を座標変換することにより、断続的に撮影された複数のX線3D画像間の座標系を統一する手段とから構成したもので、術前術後の確認や、矯正の進捗確認等が容易に行えるようになる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被検者の周囲を回転してX線3D画像を撮影するX線撮影手段と、前記X線撮影手段の近傍に設置され、かつ前記被検者の可視光3D画像を撮影する可視光撮影手段と、前記可視光撮影手段で得られた可視光3D画像を使用して前記X線撮影手段により撮影する前記被検者のX線撮影部位を位置決めするようにした計測装置であって、断続的に撮影された複数の可視光3D画像から撮影部位の特徴量を抽出して前記被検者の解剖学的な座標系を得る手段と、得られた解剖学的座標系を基に、前記可視光3D画像と同時に撮影されたX線3D画像を座標変換することにより、断続的に撮影された複数のX線3D画像間の座標系を統一する手段とを具備したことを特徴とする計測装置。
IPC (2件):
A61B 6/03 ,  A61B 6/14
FI (3件):
A61B6/03 360Q ,  A61B6/03 360G ,  A61B6/14 310
Fターム (17件):
4C093AA21 ,  4C093AA22 ,  4C093AA25 ,  4C093CA21 ,  4C093DA05 ,  4C093EB10 ,  4C093EC15 ,  4C093EC28 ,  4C093ED10 ,  4C093FF16 ,  4C093FF20 ,  4C093FF34 ,  4C093FF35 ,  4C093FF37 ,  4C093FF42 ,  4C093FH03 ,  4C093FH09
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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