特許
J-GLOBAL ID:200903088730562667
膜の歪測定器とそれを使用した歪測定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
長瀬 成城
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-295911
公開番号(公開出願番号):特開2002-107108
出願日: 2000年09月28日
公開日(公表日): 2002年04月10日
要約:
【要約】【課題】膜構造建築物等における膜の歪を精確に測定できる膜の歪測定器を提供する。【解決手段】圧電ポリマー1と、この圧電ポリマーに設けた電極2と、この電極を介して得られた圧電ポリマーからの出力電圧をもとに、所定の式から膜の歪を算出する演算手段3とを備えていることを特徴とする膜の歪測定器。
請求項(抜粋):
圧電ポリマーと、この圧電ポリマーに設けた電極と、この電極を介して得られた圧電ポリマーからの出力電圧をもとに以下の〔数1〕または〔数2〕のいずれか一方の式から膜の歪を算出する演算手段とを備えていることを特徴とする膜の歪測定器。【数1】【数2】
IPC (2件):
FI (3件):
G01B 7/16
, G01L 1/16 Z
, G01L 1/16 A
Fターム (9件):
2F063AA25
, 2F063BA14
, 2F063BA30
, 2F063BC09
, 2F063DD04
, 2F063EC03
, 2F063EC07
, 2F063EC24
, 2F063EC25
引用特許:
審査官引用 (12件)
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特開昭61-205805
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特開昭61-205805
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特開昭57-128803
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特開昭57-128803
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特開昭60-263690
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特開昭60-263690
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特開昭61-274201
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特開昭61-274201
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特開平4-369403
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特開平4-369403
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特公昭45-005194
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特公昭45-005194
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