特許

J-GLOBAL ID：200903088739891027

濃度測定方法および装置

発明者： 伊串 達夫 ,  渡邊 靖 ,  森本 清 ,  昼田 了
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所 ,  協和醗酵工業株式会社
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-287728
公開番号（公開出願番号）：特開平11-108822
出願日： 1997年10月04日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：

【要約】【課題】 試料の実際の濃度を短時間にしかも簡単に得ることができる濃度測定方法および装置を提供すること。【解決手段】 光源13からの平行光を試料に照射したときに生ずる散乱光の強度分布と濁度とを同時に測定し、前記散乱光の強度分布から散乱光相当粒度分布を求め、この散乱光相当粒度分布と、前記濁度と、予め求めておいた散乱係数と粒径との関係とを用いることにより試料濃度を得るようにしたことを特徴としている。

請求項（抜粋）：

光源からの平行光を試料に照射したときに生ずる散乱光の強度分布と濁度とを同時に測定し、前記散乱光の強度分布から散乱光相当粒度分布を求め、この散乱光相当粒度分布と、前記濁度と、予め求めておいた散乱係数と粒径との関係とを用いることにより試料濃度を得るようにしたことを特徴とする濃度測定方法。

IPC (4件)：

G01N 15/06 ,  G01N 15/02 ,  G01N 21/47 ,  G01N 21/59

FI (4件)：

G01N 15/06 C ,  G01N 15/02 A ,  G01N 21/47 Z ,  G01N 21/59 Z

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-115950
  
• 特開平2-024533
  
• 特開昭56-115942
  
• 粒度分布解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-295818   出願人：株式会社堀場製作所