特許
J-GLOBAL ID：200903088849333399
X線結晶構造解析装置のための試料保持用ゴニオメータ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 利之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-126619
公開番号（公開出願番号）：特開平11-304999
出願日： 1998年04月22日
公開日（公表日）： 1999年11月05日
要約：
【要約】【課題】 ワイセンベルグカメラでω軸・χ軸・φ軸の三つの回転軸をもつゴニオメータを使う場合に、χサークルを半円以下(好ましくは円周の4分の1程度)にして、ω軸の周りに試料を360°回転させてもゴニオメータがコリメータに衝突しないようにし、また、イメージングプレート上のブラインド領域の出現位置を容易に計算できるようにする。【解決手段】 ω回転台14にはχ摺動面16が固定され、χ摺動面16上をχ摺動台18がχ=プラス55°〜マイナス20°の角度範囲で摺動する。χ摺動台18にはΦ回転台20が取り付けられ、Φ回転台20に試料ホルダー22が取り付けられる。入射X線はコリメータ28で絞られて、試料26に入射し、試料26で回折した回折X線はイメージングプレート30に到達して、そこに潜像として記録される。
請求項（抜粋）：
2次元の記録媒体に回折X線を記録するX線結晶構造解析装置のための試料保持用ゴニオメータであって、次の(ア)〜(カ)を備えるゴニオメータ。(ア)静止しているベース。(イ)前記ベースに対してω軸の周りに360°回転できるように取り付けられたω回転台。(ウ)前記ω回転台に固定されたχ(カイ)摺動面。このχ摺動面はχ軸を中心とする凹状の円弧面で構成されていて、χ軸は前記ω軸と垂直に交差している。このχ摺動面を前記ω軸が貫通している。そして、ω軸を含んでχ軸に垂直な平面上において、χ摺動面の一端とχ軸とを結ぶ第1の線分とω軸とが作る第1の開き角α1が86°以下であり、χ摺動面の他端とχ軸とを結ぶ第2の線分とω軸とが作る第2の開き角α2が86°以下である。(エ)前記χ摺動面上を前記χ軸の周りに摺動できるχ摺動台。(オ)前記χ摺動台に対してφ軸の周りに360°回転できるように取り付けられたφ回転台。前記ω回転台が任意の回転位置にあり、かつ、前記χ摺動台が任意の摺動位置にあるときに、φ軸は常に前記χ軸とω軸の交点を通過する。(カ)前記φ回転台に取り付けられた試料ホルダー。
IPC (3件)：
G21K 1/06
, G01N 23/205
, G01N 23/207
G21K 1/06 L
, G01N 23/205
, G01N 23/207
