特許
J-GLOBAL ID:200903088886780710

自己診断状況表示方式

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 穂坂 和雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-224901
公開番号(公開出願番号):特開平8-087426
出願日: 1994年09月20日
公開日(公表日): 1996年04月02日
要約:
【要約】【目的】本発明は処理装置及び複数のユニットと共に表示部を備えた装置における自己診断状況表示方式に関し,自己診断の実行時にマイクロプロセッサ等の処理装置自身に障害が発生したり,診断プログラムに異常があった場合に,障害発生の原因を誤って指摘するのを防止することを目的とする。【構成】処理装置に設けられた自己診断部に接続された各ユニットについて自己診断のテストを行うテスト実行部を備える。テスト実行部は,各テストの起動時に準備状態を表示部に表示し,続くテスト時にテスト中であることを表示部に表示するよう構成する。
請求項(抜粋):
処理装置及び複数のユニットと共に表示部を備えた装置における自己診断状況表示方式において,処理装置に設けられた自己診断部は,接続された各ユニットについて自己診断のテストを行うテスト実行部を備え,前記テスト実行部は,各テストの起動時に準備状態を前記表示部に表示し,続くテスト時にテスト中であることを表示することを特徴とする自己診断状況表示方式。
IPC (2件):
G06F 11/22 360 ,  G06F 11/32
引用特許:
審査官引用 (11件)
  • 装置試験機
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-223725   出願人:日本電気株式会社
  • 特開平4-195341
  • 特開昭62-131343
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