はんだ付け検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-122472
公開番号（公開出願番号）：特開平6-082223
出願日： 1992年05月15日
公開日（公表日）： 1994年03月22日
要約：

【要約】【目的】リード浮きという特殊なはんだ付け欠陥も精度よく検出する。【構成】検査対象はんだ付け部の二値化画像データを、あらかじめ荷重データ記憶回路12に記憶させておく荷重データをパラメータとしてニューロ演算回路11によりニューロ演算し、良品カテゴリ出力値と欠陥カテゴリ出力値を求めて検査結果の判定を行う。

請求項（抜粋）：

検査対象はんだ付け部に光を照射する照明と、検査対象はんだ付け部の画像を取り込む前記検査対象はんだ付け部の上方に取り付けられたカメラと、前記カメラから入力した画像をAD変換し濃淡画像信号を出力するAD変換回路と、前記濃淡画像信号を入力し予め決められた値より明るい部分は“1”に暗い部分は“0”の二値化画像に変換する二値化回路と、検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、二値化回路より出力される二値化画像信号に前記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回路と、荷重データを記憶する荷重データ記憶回路と、前記検査領域発生回路より出力される検査領域内二値化画像信号より前記荷重データ記憶回路から出力される荷重データ信号を用いてニューロ演算を行うニューロ演算回路と、前記ニューロ演算回路から出力される演算結果信号を入力し前記検査対象はんだ付け部の良否の判定を行う判定回路とを含むことを特徴とするはんだ付け検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 , G01N 21/88 , H05K 3/34

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開平4-295747
はんだ付けの状態検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-081206 出願人：日立電子株式会社

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