特許
J-GLOBAL ID:200903089103365828
二次電池の出力劣化演算装置および方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
永井 冬紀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-241250
公開番号(公開出願番号):特開2003-057321
出願日: 2001年08月08日
公開日(公表日): 2003年02月26日
要約:
【要約】【課題】二次電池の劣化演算時の精度を向上させる【解決手段】二次電池の劣化時電池出力と初期電池出力との出力比から電池出力劣化を算出する二次電池の出力劣化演算装置は、二次電池1の開放電圧と、一定電流にて二次電池1を充電する時の電圧とに基づいて出力比を演算して、二次電池1の劣化を演算する。これにより、複数の電圧値と電流値をサンプリングして二次電池の劣化演算を行う方法に比べて、正確に二次電池1の劣化を演算することができる。
請求項(抜粋):
二次電池の劣化時電池出力と初期電池出力との出力比から電池出力劣化を算出する二次電池の出力劣化演算方法において、前記二次電池の開放電圧を検出する手順と、一定電流にて前記二次電池を充電する時の電圧を検出する手順と、検出した前記二次電池の開放電圧と、前記一定電流にて前記二次電池を充電する時の電圧とに基づいて、前記出力比を演算する手順とを含むことを特徴とする二次電池の出力劣化演算方法。
IPC (4件):
G01R 31/36
, B60L 3/00
, H01M 10/48 ZHV
, H02J 7/00
FI (4件):
G01R 31/36 A
, B60L 3/00 S
, H01M 10/48 ZHV P
, H02J 7/00 X
Fターム (38件):
2G016CA03
, 2G016CB06
, 2G016CB11
, 2G016CB12
, 2G016CB31
, 2G016CC03
, 2G016CC04
, 2G016CC27
, 2G016CC28
, 5G003AA01
, 5G003AA07
, 5G003BA01
, 5G003CA02
, 5G003CC07
, 5G003DA07
, 5G003EA05
, 5G003EA08
, 5G003FA06
, 5G003GB03
, 5G003GB06
, 5G003GC05
, 5H030AA06
, 5H030AS08
, 5H030AS18
, 5H030BB03
, 5H030FF41
, 5H030FF43
, 5H115PA15
, 5H115PC06
, 5H115PG04
, 5H115PI16
, 5H115PU01
, 5H115PU21
, 5H115PV02
, 5H115PV09
, 5H115SE06
, 5H115TI05
, 5H115TI06
引用特許:
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