特許
J-GLOBAL ID：200903089186903699

光学機器

発明者：
中村 英和

中村 英和 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 藤元 亮輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-079495
公開番号（公開出願番号）：特開2006-259520
出願日： 2005年03月18日
公開日（公表日）： 2006年09月28日
要約：
【課題】 可動部材のリセット動作を不要としながらも、該可動部材の高分解能で高精度な位置検出を行い、該検出結果に基づく駆動対象部材の適正な駆動制御を行う光学機器を提供する。 【解決手段】 光学機器は、第1の可動部材5の所定方向への移動に応じて連続的に増加又は減少する信号を出力する第1のセンサ8と、第1の可動部材の所定方向への移動に応じてそれぞれ周期的かつ連続的に変化する互いに位相が異なる複数の信号を出力する第2のセンサ9と、第1の可動部材が所定位置に位置することを検出する第3のセンサ10と、第1の可動部材および第2の可動部材のうち駆動対象部材の駆動を制御する制御手段11とを有する。制御手段は、第3のセンサによる検出が行われるまでは第1のセンサからの出力信号に基づいて駆動対象部材の駆動を制御し、第3のセンサによる検出が行われた後は、第2のセンサからの出力信号に基づいて駆動対象部材の駆動を制御する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
第1の可動部材の所定方向への移動に応じて連続的に増加する信号又は連続的に減少する信号を出力する第1のセンサと、 前記第1の可動部材の所定方向への移動に応じてそれぞれ周期的かつ連続的に変化する互いに位相が異なる複数の信号を出力する第2のセンサと、 前記第1の可動部材が所定位置に位置することを検出する第3のセンサと、 前記第1の可動部材および第2の可動部材のうち駆動対象部材の駆動を制御する制御手段とを有し、 前記制御手段は、前記第3のセンサによる検出が行われるまでは前記第1のセンサからの出力信号に基づいて前記駆動対象部材の駆動を制御し、前記第3のセンサによる検出が行われた後は前記第2のセンサからの出力信号に基づいて前記駆動対象部材の駆動を制御することを特徴とする光学機器。
IPC (1件)：
G02B 7/08
FI (2件)：
G02B7/08 C ,  G02B7/08 Z
Fターム (6件)：
2H044DA02 ,  2H044DA03 ,  2H044DB01 ,  2H044DB02 ,  2H044DC01 ,  2H044DE06
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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