特許

J-GLOBAL ID：200903089211917900

平面型表示パネル検査装置

発明者： 光宗 敏文 ,  田中 謙吾 ,  田中 敏昭
出願人/特許権者： シャープ株式会社 ,  株式会社エー・ディー・エス
代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-173387
公開番号（公開出願番号）：特開平7-027714
出願日： 1993年07月13日
公開日（公表日）： 1995年01月31日
要約：

【要約】【目的】表示パネルの大きさに拘わらず、欠陥を確実に検出できるともに、検査に要する時間を短縮することを目的とする。【構成】検査パターン発生装置70によって液晶パネル50に、検査項目に応じた検査パターンを表示させ、複数のカメラ20でそれを撮像し、カメラ20からの画像信号を、高速画像処理装置80で検査項目に応じて処理して欠陥を検出するようにしており、さらに、検査項目によっては、複数の検査パターンを、液晶パネル50の領域を複数に分割して同時に表示させて同時に検査できるようにし、あるいは、液晶パネル50の予め定められた領域のみを検査するようにしている。

請求項（抜粋）：

複数の画素を平面上に配置し、前記画素を選択的に駆動することにより画像表示を行う平面型表示パネルの表示欠陥を検査する平面型表示パネル検査装置において、前記平面型表示パネルの画像を読み取る複数の読み取り手段と、前記平面型表示パネルに、検査項目に応じた検査パターンを表示させる表示制御手段と、前記検査パターンを読み取った読み取り手段からの画像信号を、検査項目に応じて処理して表示パネル面上にある表示欠陥および欠陥位置を特定する検査手段とを備え、前記表示制御手段は、所定の複数の検査項目については、対応する複数の検査パターンを、前記平面型表示パネルの領域を複数に分割して同時に表示させるものであることを特徴とする平面型表示パネル検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G02F 1/13 101 ,  G09G 3/36

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 液晶表示パネル基板の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-242370   出願人：フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド, 石川島播磨重工業株式会社
• 特開昭60-016088
  

審査官引用 (1件)

• 液晶表示パネル基板の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-242370   出願人：フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド, 石川島播磨重工業株式会社