特許
J-GLOBAL ID:200903089266202454

測量システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 松浦 孝 ,  小倉 洋樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-044044
公開番号(公開出願番号):特開2004-085539
出願日: 2003年02月21日
公開日(公表日): 2004年03月18日
要約:
【課題】測量機で得られる測量情報とカメラで得られる測量現場の画像情報とを簡便かつ効率的に関連付ける。【解決手段】測量機10の視準望遠鏡17の光軸L上にハーフミラーMを光軸Lに対し45°の角度をもって配置し、光軸Lを光軸Lcに分岐する。デジタルスチルカメラ20の撮像レンズ22のレンズ中心OLを、光軸Lc上に配置する。光軸Lcが光軸Lから分岐した点からレンズ中心OLまでの距離を、視準望遠鏡17の水平軸と鉛直軸が交わる視準原点OSと光軸L、Lcの分岐点からの距離Dとし、デジタルスチルカメラ20を視準望遠鏡17と光学的に等価な位置に配置する。デジタルスチルカメラ20により測量現場の概観画像を撮影する。測量機10により概観画像内の任意の測点Q1、Q2、Q3を測定する。測点Q1、Q2、Q3をデジタルスチルカメラ20に表示された概観画像上に表示するとともに、その対応を記録媒体に記録する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
測量を行なうための測量機と、 前記測量機に対し相対的に所定の位置に配置され、測点を含む測量現場の概観画像を撮影するための撮像装置と、 前記測量機による測点の測量情報と前記測点に対応する前記概観画像上の位置に関する位置情報とを対応付ける対応付け手段と を備えることを特徴とする測量システム。
IPC (3件):
G01C15/00 ,  G02B7/28 ,  G03B17/18
FI (4件):
G01C15/00 101 ,  G01C15/00 103D ,  G03B17/18 Z ,  G02B7/11 H
Fターム (4件):
2H051AA00 ,  2H051GB15 ,  2H102AA71 ,  2H102CA34
引用特許:
審査官引用 (3件)

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