特許

J-GLOBAL ID：200903089366964068

モニタリング用ファイバカプラ及びそれを用いた光ファイバ式物理量測定装置

発明者： 小倉 明 ,  川内 秀貴 ,  小椋 正紀 ,  熊谷 達也
出願人/特許権者： 日立電線株式会社
代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-053067
公開番号（公開出願番号）：特開2008-216577
出願日： 2007年03月02日
公開日（公表日）： 2008年09月18日
要約：

【課題】簡単な構成で安価に発光素子をモニタリングできるモニタリング用ファイバカプラを提供する。【解決手段】シングルモード光ファイバ33sと一方のマルチモード光ファイバ33mとの端面同士を接続し、更にシングルモード光ファイバ33sの長手方向のクラッドの一部と他方のマルチモード光ファイバ4とを接続したものである。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

シングルモード光ファイバと一方のマルチモード光ファイバとの端面同士を接続し、更に上記シングルモード光ファイバの長手方向のクラッドの一部と他方のマルチモード光ファイバとを接続したことを特徴とするモニタリング用ファイバカプラ。

IPC (2件)：

G02B 6/28 ,  G01K 11/12

FI (3件)：

G02B6/28 V ,  G02B6/28 E ,  G01K11/12 F

Fターム (3件)：

2F056VF02 ,  2F056VF03 ,  2F056VF11

引用特許：

出願人引用 (1件)

• Y分岐導波路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-316155   出願人：株式会社山武