特許
J-GLOBAL ID：200903089386388284
電子回路の会話型ディレイ解析方法およびディレイ解析システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京谷 四郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-204480
公開番号（公開出願番号）：特開平9-054138
出願日： 1995年08月10日
公開日（公表日）： 1997年02月25日
要約：
【要約】【課題】 電子回路の会話形ディレイ解析において、重要度の高いパスを容易に認識することができ、また、高速なエラーパスの指定を可能とすること。【解決手段】 会話型ディレイ解析システム2は遅延解析データベース1に格納された遅延解析データに基づき、表示手段3上にエラーパス数とその比率を円グラフで表示する。回路設計者が解析したい円グラフのエラーパス情報を指定すると、表示された階層の下位の階層のエラーパス情報もしくはエラーピンリストが表示される。また、表示手段3上にディレイ分布図を表示することもできる。ディレイ分布図を表示した場合には、回路設計者がディレイ分布図上の解析したいバーを指定すると、そのバーに対応したLSIのエラーピンリストが表示される。回路設計者はエラーピンリストから解析したいエラーピンを選択し、各種解析処理を行う。
請求項（抜粋）：
電子回路のディレイを会話型で解析する会話型ディレイ解析方法において、ディレイ解析の対象となる回路のパスについて、エラーパス数とその比率を円グラフで表示し、該表示結果に基づき電子回路のディレイ解析を行うことを特徴とする電子回路の会話型ディレイ解析方法。
IPC (2件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 310
G01R 31/28 F
, G06F 11/22 310 H
