特許
J-GLOBAL ID：200903089447723090
電子スピン偏極度の計測方法及びその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-179530
公開番号（公開出願番号）：特開平10-020044
出願日： 1996年07月09日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：
【要約】【課題】 2次電子の発生場所を表面第1〜第n原子層に特定して、その2次電子のスピン偏極度を計測可能にした電子スピン偏極度の計測方法及びその装置を提供する。【解決手段】 表面の限定された原子層数のスピン偏極度を計測する方法において、試料としての結晶表面1に1次電子ビームを照射し、前記結晶表面1から放出される2次電子を引き込み電極系5、加速管6を通して加速して、金散乱標的7に垂直に衝突させ、前記金散乱標的7の両側に設置した電子検出器11,13のカウント数に基づいて被分析電子線の偏極度を求める。
請求項（抜粋）：
表面から深さ方向に積層された原子層において、表面から深さ方向の原子層の限定された原子層数のスピン偏極度を計測する方法において、(a)試料としての結晶表面に1次電子ビームを照射し、(b)前記結晶表面から放出される2次電子を引き込み電極系、加速管を通して加速して、金散乱標的に垂直に衝突させ、(c)前記金散乱標的の両側に設置した電子検出器のカウント数に基づいて被分析電子線の偏極度を求めることを特徴とする電子スピン偏極度の計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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