特許
J-GLOBAL ID:200903089460501128

質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 作田 康夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-149328
公開番号(公開出願番号):特開2000-340170
出願日: 1999年05月28日
公開日(公表日): 2000年12月08日
要約:
【要約】【課題】液体または気体試料中の混合成分を高感度に測定できる小型の質量分析装置を提供する。【解決手段】四重極イオントラップ型質量分析計を用い、イオントラップ1に成分Aのイオンのみ、または成分Aのイオンを含む混合成分が入射している間、イオントラップ1を用いて試料中の成分Aのイオンのみを蓄積した後に、スイッチ10を切り換えて、イオンを蓄積するための交流電場の印加を停止すると同時に、イオン導入口5からイオン排出口6に向かうDC電場を形成し、蓄積したイオンをイオン排出口6から排出して検出器50で検出する。
請求項(抜粋):
四重極イオントラップ型質量分析装置において、実質的に1種類のイオンのみを蓄積した後、イオンを蓄積するための交流電場の印加を停止し、次にイオントラップ内部にDC電場を形成してイオンを排出し、検出することを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (2件):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L
Fターム (2件):
5C038JJ06 ,  5C038JJ07
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開昭62-276739
  • 特開昭63-168961
  • 飛行時間型質量分析装置
    公報種別:公表公報   出願番号:特願2000-529737   出願人:シマヅリサーチラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド
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