特許
J-GLOBAL ID:200903089523751286
ひずみゲージ及びひずみ測定方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
佐藤 辰彦 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-296594
公開番号(公開出願番号):特開2003-097906
出願日: 2001年09月27日
公開日(公表日): 2003年04月03日
要約:
【要約】【課題】物体のひずみ分布を好適に計測することができると共に製造のし易さや歩留まりの向上を図ることができるひずみゲージを提供する。【解決手段】ひずみゲージ1は連続して延在する振動波形状のゲージグリッド3と、複数のタブ4とをゲージベース2上に備えている。タブ4は、ゲージグリッド3の上側と下側とにゲージグリッド3の延在方向に等間隔で配列されている。上側のタブ4は所定間隔D置きにゲージグリッド3の上端部に存する折返し部5aにそれぞれ導通して設けられ、下側のタブ4は所定間隔D置きゲージグリッド3の下端部に存する折返し部5bにそれぞれ導通して設けられている。折返し部5a,5bは、ゲージグリッド3の延在方向にD/2の間隔だけ位置がずれている。
請求項(抜粋):
ひずみに応じた抵抗値変化を生じる連続した線状の抵抗部材を振動波形状に形成してなり、その振幅方向の両端にそれぞれ複数の折返し部を有して延在するゲージグリッドと、該ゲージグリッドの複数の折返し部のうちの少なくとも3個以上の折り返し部にそれぞれ導通して互いに離間して設けられた複数の信号線接続用のタブとを備えたことを特徴とするひずみゲージ。
IPC (2件):
G01B 7/16
, G01L 5/00 101
FI (2件):
G01L 5/00 101
, G01B 7/18 J
Fターム (10件):
2F051AB09
, 2F051BA00
, 2F063AA25
, 2F063CA10
, 2F063DA02
, 2F063EC02
, 2F063EC05
, 2F063EC16
, 2F063EC20
, 2F063EC24
引用特許:
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