特許
J-GLOBAL ID：200903089681422850
ガス濃度測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-140104
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005547
出願日： 1994年06月22日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：
【要約】【目的】 ガスの濃度分布を精度よく求める。【構成】 ガス濃度を測定する測定箇所に、光源からの光により光路7を所定間隔を隔てて平行に複数形成して光路群8を形成すると共に、この光路群8と所定角度ずれた光路群8を複数形成し、これら3方向以上の角度の異った光路群8の各光路7に沿ったガス濃度をそれぞれ求め、これらガス濃度をCTアルゴリズムによって演算処理してガス濃度分布を算出する測定器2を設ける。
請求項（抜粋）：
ガス濃度を測定する測定箇所に、光源からの光により光路を所定間隔を隔てて平行に複数形成して光路群を形成すると共に、この光路群と所定角度ずれた光路群を複数形成し、これら3方向以上の角度の異った光路群の各光路に沿ったガス濃度をそれぞれ求め、これらガス濃度をCTアルゴリズムによって演算処理してガス濃度分布を算出する測定器を設けたことを特徴とするガス濃度測定装置。
引用特許：
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