特許
J-GLOBAL ID:200903089738460169
水素分離体の製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
渡邉 一平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-006616
公開番号(公開出願番号):特開2004-216275
出願日: 2003年01月15日
公開日(公表日): 2004年08月05日
要約:
【課題】パラジウムと銀とが合金化され低温脆性が改善されているとともに、耐熱衝撃性に優れ、且つ、高純度の水素を得ることが出来る水素分離体を提供すること。【解決手段】多孔質基体上に水素分離膜が形成された水素分離体の製造方法の提供による。本方法は、多孔質基体の表面に、予め合金化したパラジウム-銀合金のゾルを担持させた後に、300〜600°Cで焼結させて膜化し、水素分離膜を形成するところに特徴がある。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
多孔質基体上に水素分離膜が形成された水素分離体の製造方法であって、
前記多孔質基体の表面に、予め合金化したパラジウム-銀合金のゾルを担持させた後に、300〜600°Cで焼結させて膜化し、前記水素分離膜を形成することを特徴とする水素分離体の製造方法。
IPC (5件):
B01D71/02
, B01D69/12
, B22F7/04
, C04B41/88
, C04B41/90
FI (5件):
B01D71/02 500
, B01D69/12
, B22F7/04 D
, C04B41/88 S
, C04B41/90 C
Fターム (27件):
4D006GA41
, 4D006HA28
, 4D006JA23A
, 4D006JA25A
, 4D006JA53A
, 4D006LA06
, 4D006MA06
, 4D006MA08
, 4D006MB15
, 4D006MB19
, 4D006MC02
, 4D006MC02X
, 4D006MC03
, 4D006NA39
, 4D006NA46
, 4D006NA50
, 4D006NA64
, 4D006PA01
, 4D006PB66
, 4D006PC01
, 4D006PC69
, 4D006PC80
, 4K018DA11
, 4K018FA35
, 4K018JA24
, 4K018KA22
, 4K018KA70
引用特許: