特許
J-GLOBAL ID：200903089814948893
質量分析計
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-230035
公開番号（公開出願番号）：特開2001-057173
出願日： 1999年08月16日
公開日（公表日）： 2001年02月27日
要約：
【要約】【課題】光触媒による光反応の反応過程で生成するイオン種を分析することのできる質量分析計を提供する。【解決手段】光照射装置からの光と光触媒とによって試料をイオン化するイオン源と、生成したイオンを高真空中の質量分析部に導入する手段とを備えた。
請求項（抜粋）：
光照射装置からの光と光触媒とによって試料をイオン化するイオン源と、生成したイオンを高真空中の質量分析部に導入する手段とを備えたことを特徴とする質量分析計。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H01J 49/10
, G01N 27/62 G
, G01N 27/62 V
5C038EF17
, 5C038GG06
, 5C038GG13
, 5C038GH04
