特許
J-GLOBAL ID：200903090185536585
電極チップのドレッシング異常検出方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
千葉 剛宏 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-017636
公開番号（公開出願番号）：特開2002-219581
出願日： 2001年01月25日
公開日（公表日）： 2002年08月06日
要約：
【要約】【課題】簡単な工程および構成で、電極チップのドレッシング異常を容易かつ確実に検出し、高精度な溶接作業を行うことを可能にする。【解決手段】制御装置14は、CPU60と、メモリ62とを備えており、このCPU60は、電極チップの摩耗量を検出する摩耗量検出処理部72と、ドレッシング作業前後に検出された各摩耗量に基づいて前記電極チップにドレッシング異常が発生したか否かを検出する異常判定部74とを備える。
請求項（抜粋）：
溶接ガンに設けられた電極チップのドレッシング異常を検出するための電極チップのドレッシング異常検出方法であって、前記電極チップにより溶接作業を所定の回数だけ行った後、該電極チップにドレッシング作業を施す工程と、前記ドレッシング作業後に、前記電極チップの摩耗量を検出する工程と、前記検出された摩耗量が、前記ドレッシング作業前に検出された前記電極チップの摩耗量に基づいて設定される基準摩耗範囲内にあるか否かを判断する工程と、前記検出された摩耗量が、前記基準摩耗範囲外である際に、前記電極チップにドレッシング異常が発生したことを検出する工程と、を有することを特徴とする電極チップのドレッシング異常検出方法。
IPC (2件)：
B23K 11/30 350
, B24B 53/00
B23K 11/30 350
, B24B 53/00 A
