特許
J-GLOBAL ID：200903090265933658

プラズマディスプレイパネル検査方法および検査装置

発明者：
伊倉 恒生

伊倉 恒生 について

, 
石倉 靖久

石倉 靖久 について

, 
井上 竜一

井上 竜一 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  坂口 智康 ,  内藤 浩樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-206929
公開番号（公開出願番号）：特開2006-032043
出願日： 2004年07月14日
公開日（公表日）： 2006年02月02日
要約：
【課題】短時間でかつ確実に蛍光体層の形状不良を検出し良否判定ができるプラズマディスプレイパネル検査方法と検査装置を提供する。【解決手段】背面基板101上の隔壁によって区画された領域に塗布された蛍光体の形状を検査するプラズマディスプレイパネル検査装置であって、背面基板101の上方に配置され背面基板101の蛍光体層に紫外線を照射する紫外線光源105と、背面基板101の上方に配置され蛍光体層からの励起発光を撮像するエリアセンサーカメラ103と、エリアセンサーカメラ103により得られた画像データを計算処理する画像処理手段106と、蛍光体層の形成状態の良否を判定する良否判定手段107とを備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
基板上の隔壁によって区画された領域に形成された蛍光体の形状を検査するプラズマディスプレイパネル検査方法であって、蛍光体ペーストを塗布し乾燥させた後の蛍光体表面に紫外線を照射するステップと、前記紫外線により励起された前記蛍光体からの発光をエリアセンサーカメラに撮像するステップと、前記蛍光体からの発光パターンを解析し前記蛍光体の形成状態を測定するステップとを含むことを特徴とするプラズマディスプレイパネル検査方法。
IPC (4件)：
H01J 9/42 ,  G01N 21/956 ,  G09F 9/00 ,  H01J 11/02
FI (4件)：
H01J9/42 A ,  G01N21/956 Z ,  G09F9/00 352 ,  H01J11/02 Z
Fターム (20件)：
2G051AA73 ,  2G051AB12 ,  2G051BA05 ,  2G051CA04 ,  5C012AA09 ,  5C012BE03 ,  5C040FA01 ,  5C040FA04 ,  5C040GB03 ,  5C040GB14 ,  5C040GG09 ,  5C040JA26 ,  5C040MA23 ,  5G435AA17 ,  5G435BB06 ,  5G435CC09 ,  5G435CC12 ,  5G435HH06 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)
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