特許
J-GLOBAL ID：200903090444041921
超伝導体の電流・電圧特性測定方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-111662
公開番号（公開出願番号）：特開2004-069674
出願日： 2003年04月16日
公開日（公表日）： 2004年03月04日
要約：
【課題】本発明の課題は、大面積超伝導膜、長尺超伝導テープ線材、および大型超伝導バルク材などの大面積・大型の超伝導体の電流・電圧特性とその分布を、いかに非破壊的かつ非接触で測定するかである。【解決手段】超伝導体の直上に配置したコイルに交流電流を流し、該電流及び該電流によりコイルに誘起される第3高調波誘導電圧とを検出することにより超伝導体の臨界電流密度を求める方法を用い、該交流電流の周波数を変化させて臨界電流密度を複数回測定することによって、超伝導体の電流・電圧特性を測定する。駆動コイルの近傍に配置された検出コイルに誘起される基本波誘導電圧の測定から臨界電流密度を測定する方法を用いても、該交流電流の周波数を変化させて臨界電流密度を複数回測定することによって、超伝導体の電流・電圧特性を測定することができる。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
超伝導体の近傍に配置したコイルに交流電流を流し、該交流電流及び該交流電流により該コイルに誘起される第3高調波誘導電圧を検出することにより、該交流電流の周波数における該超伝導体の臨界電流密度を測定する工程と、該周波数と異なる周波数において、該工程を複数回行なうことによって、超伝導体の電流・電圧特性を求めることを特徴とする超伝導体の電流・電圧特性測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N27/04 Z
, H01L39/24 Z
2G060AD01
, 2G060AE40
, 2G060AF03
, 2G060AF07
, 2G060EB01
, 2G060GA01
, 2G060HA02
, 2G060HC13
, 2G060HC19
, 2G060HC21
, 2G060HD03
, 2G060HE03
, 2G060KA09
, 4M113CA34
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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