特許
J-GLOBAL ID:200903090543339266

多周波符号器の試験システムおよび試験方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 詔男 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-112896
公開番号(公開出願番号):特開2000-308100
出願日: 1999年04月20日
公開日(公表日): 2000年11月02日
要約:
【要約】【課題】交換機に使用される多周波符号器の試験を、交換機が規定している固定の符号送受信条件以外に、試験者が任意に条件を変動させて行えるようにする。【解決手段】試験制御部(PC)1と送受信制御部(TST)2とで構成され、符号器接続部(CON)3に試験用の符号器(DUT)4が接続される。試験者がPC1の入出力装置(CSL)10を簡易に操作し、本システムに指示する試験内容をPC1が解読処理した上で、TST2を動作制御してDUT4との間で試験信号を送受することにより、試験者が指示する内容の試験を実行する。このとき、試験システムが現在保持している試験条件データを全て表示した上で、試験者は、試験の目的に応じて、固定の条件あるいはある任意の範囲をもつ条件に変更することができるように試験条件データを入力処理することにより、試験対象の多周波符号器を任意の条件のもとで試験する。
請求項(抜粋):
交換機に使用される多周波符号器の送信機能及び受信機能を試験する多周波符号器の試験システムにおいて、試験すべき交換機を使用することなく試験対象の符号器の入出力信号を収容し、 前記入出力信号に基づいて、簡易な試験操作で前記多周波符号器の詳細な試験を行うことができるように、小型且つ小規模な試験回路で構成されたことを特徴とする多周波符号器の試験システム。
IPC (3件):
H04Q 1/45 ,  H04M 3/26 ,  H04Q 11/04
FI (3件):
H04Q 1/45 Z ,  H04M 3/26 B ,  H04Q 11/04 L
Fターム (31件):
5K019AA02 ,  5K019AB05 ,  5K019AC05 ,  5K019BA13 ,  5K019BA14 ,  5K019BB41 ,  5K019CA06 ,  5K019CC09 ,  5K019CC14 ,  5K019CC15 ,  5K019CC16 ,  5K019DC05 ,  5K064AA14 ,  5K064BA09 ,  5K064BB12 ,  5K064BB16 ,  5K064CA08 ,  5K064DA11 ,  5K064DB14 ,  5K064DC03 ,  5K064DC19 ,  5K069AA08 ,  5K069BA02 ,  5K069CB01 ,  5K069DA03 ,  5K069EA19 ,  5K069FA15 ,  5K069FD02 ,  5K069FD03 ,  5K069FD13 ,  5K069HA00
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 特開昭61-199963
  • 特開平3-237895
  • 交換機の試験方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-121437   出願人:三菱電機ビルテクノサービス株式会社, 三菱電機株式会社
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