特許
J-GLOBAL ID:200903090621735106

差異検出方法および画像検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 吉田 茂明 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-092311
公開番号(公開出願番号):特開平10-282633
出願日: 1997年04月10日
公開日(公表日): 1998年10月23日
要約:
【要約】【課題】 基準画像または対象画像の視覚的に暗い部分においても正確な差異の検出ができる差異検出方法および画像検査装置を提供する。【解決手段】 初校および再校の画像データを比較して差異を検出する際の判定条件を|R0-R1|/{min(R0,R1)+α}>β(左辺をRGB各色成分について取り、R成分が最大の場合)としている。濃度差しきい値直線L3,L4の間の領域に該当する場合は初校と再校の対象とする画素を同一と判定し、それ以外の領域に該当した場合は差異ありと判定している。従って、従来の濃度差しきい値直線L1,L2と比較すると、初校および再校における明るさの暗い側にあたる濃度値R0、R1の「0」に近い側ほど濃度差しきい値が小さくなっているため、暗い部分での差異を正確に検出することができる。
請求項(抜粋):
基準画像と対象画像との濃度差が濃度差しきい値よりも大きな画像部分を特定することにより、前記基準画像と前記対象画像との部分的な差異を検出する差異検出方法において、前記濃度差しきい値を、前記基準画像または前記対象画像における各画像部分の明るさに応じて変化させることを特徴とする差異検出方法。
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 特開昭61-012345
  • 複製画像情報の不良検出方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-242805   出願人:富士写真フイルム株式会社
  • パターン検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-161778   出願人:旭光学工業株式会社
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