特許

J-GLOBAL ID：200903090690743552

周辺デバイス試験システム及び方法

発明者： 木本 茂
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-386156
公開番号（公開出願番号）：特開2003-186697
出願日： 2001年12月19日
公開日（公表日）： 2003年07月04日
要約：

【要約】【課題】 汎用的に周辺デバイスが正常に動作するものであるかどうかを試験できるようにする。【解決手段】 情報処理装置に搭載されているOS1の駆動中に、情報処理装置に接続した周辺デバイスが正常に動作するものであるかどうかをOS1の制御下に組み組む前に試験する周辺デバイス試験システムにおいて、情報処理装置に搭載されているファームウェア2の命令に従って周辺デバイスの動作を試験する試験プログラム9を記憶する記憶手段6と、記憶手段6に記憶された試験プログラム9を実行する実行手段13と、実行手段13によって試験プログラム9を実行した結果周辺デバイスが正常に動作したときにOS1に対して周辺デバイスの組み込み要求を通知する通知手段14とを備える。

請求項（抜粋）：

情報処理装置に搭載されているオペレーティングシステムの駆動中に、前記情報処理装置に接続した周辺デバイスが正常に動作するものであるかどうかを前記オペレーティングシステムの制御下に組み込む前に試験する周辺デバイス試験システムにおいて、前記情報処理装置に搭載されているファームウェアの命令に従って前記周辺デバイスの動作を試験する試験プログラムを実行する実行手段と、前記実行手段によって試験プログラムを実行した結果前記周辺デバイスが正常に動作したときに前記オペレーティングシステムに対して当該周辺デバイスの組み込み要求を通知する通知手段とを備えることを特徴とする周辺デバイス試験システム。

IPC (4件)：

G06F 11/22 370 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 360 ,  G06F 13/00 301

FI (4件)：

G06F 11/22 370 A ,  G06F 11/22 310 A ,  G06F 11/22 360 K ,  G06F 13/00 301 T

Fターム (7件)：

5B048AA08 ,  5B048DD01 ,  5B083AA08 ,  5B083BB06 ,  5B083CD09 ,  5B083EE07 ,  5B083GG08

引用特許：

審査官引用 (1件)

• デバイス試験診断システム及びそのデバイス試験診断方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-072981   出願人：日本電気株式会社