特許
J-GLOBAL ID：200903090904460804

A/D変換器試験装置及びA/D変換器の生産方法

発明者：
吉川 泰正

吉川 泰正 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 河宮 治 ,  和田 充夫 ,  東島 隆治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-175970
公開番号（公開出願番号）：特開2005-354617
出願日： 2004年06月14日
公開日（公表日）： 2005年12月22日
要約：
【課題】高精度な非直線性誤差の測定を行い、且つデータ処理時間を大幅に削減するA/D変換器試験装置を提供する。【解決手段】本発明のA/D変換器試験装置は、被試験A/D変換器に測定信号を供給する信号発生手段と、前記測定信号を入力した被試験A/D変換器が第1のクロック信号に同期して出力するディジタルコードを前記第1のクロック信号に同期して演算処理し、各ディジタルコードの発生に係る統計値を計数する統計処理手段と、前記統計値を前記第1のクロックに同期して記録するメモリと、前記メモリに記録された各ディジタルコードの統計値と、前記統計値の累計値と、を用いて、所定の演算処理を行い非直線性誤差を出力する演算手段と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被試験A/D変換器に測定信号を供給する信号発生手段と、 前記測定信号を入力した被試験A/D変換器が第1のクロック信号に同期して出力するディジタルコードを前記第1のクロック信号に同期して演算処理し、各ディジタルコードの発生に係る統計値を計数する統計処理手段と、 前記統計値を前記第1のクロックに同期して記録するメモリと、 前記メモリに記録された各ディジタルコードの統計値と、前記統計値の累計値と、を用いて、所定の演算処理を行い非直線性誤差を出力する演算手段と、 を備えたことを特徴とするA/D変換器試験装置。
IPC (1件)：
H03M1/10
FI (1件)：
H03M1/10 C
Fターム (7件)：
5J022AA01 ,  5J022AC04 ,  5J022BA05 ,  5J022CB06 ,  5J022CD02 ,  5J022CE01 ,  5J022CE05
引用特許：
出願人引用 (1件)

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