特許
J-GLOBAL ID：200903090930289544
三次元測定に於ける測定歪校正方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
江原 省吾 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-003020
公開番号（公開出願番号）：特開平6-207810
出願日： 1993年01月12日
公開日（公表日）： 1994年07月26日
要約：
【要約】【目的】 三次元測定に於ける各2次元の感光要素に存在する歪によって生じる測定誤差を校正することを目的とする。【構成】 複数の2次元の感光要素を使用した三次元測定に於いて、三次元測定装置の測定エリア内に、三次元での互いの位置関係が既知となっている所定数の発光点を配置し、この各発光点を複数の2次元の感光要素で撮像することにより得られる各発光点の三次元での位置と、予め既知となっている各発光点の位置関係から両者の誤差を検出し、この誤差を校正することにより、各2次元の感光要素に存在する固有の歪により、三次元測定時に生じる誤差を予め校正するものである。
請求項（抜粋）：
複数の2次元の感光要素を使用した三次元測定に於いて、三次元測定装置の測定エリア内に、三次元での互いの位置関係が既知となっている所定数の発光点を配置し、この各発光点を複数の2次元の感光要素で撮像することにより得られる各発光点の三次元での位置と、予め既知となっている各発光点の位置関係から両者の誤差を検出し、この誤差を校正することにより、各2次元の感光要素に存在する固有の歪により、三次元測定時に生じる誤差を予め校正するようにしたことを特徴とする三次元測定に於ける測定歪校正方法。
引用特許：
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