特許

J-GLOBAL ID：200903090954509375

論理検証充分性評価方法およびそのためのシステム

発明者： 芳野 泰成 ,  高嶺 美夫 ,  長谷川 智英
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 磯村 雅俊
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-319617
公開番号（公開出願番号）：特開平8-180083
出願日： 1994年12月22日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：

【要約】【目的】 機能事象の発生に基づく検証充分性評価を高速に実行する方法およびシステムを提供すること。【構成】 論理検証充分性評価システム200において、機能カバレジ計測準備処理1000が機能事象パターンデータ300に定義された機能事象の発生回数を計測する機能を持った仮想的な計測用論理回路データ400、接続情報データ500、機能事象名称データ600を生成し、これらを用いて計測用論理回路と検証対象論理回路とを一括して論理シミュレーションする。これにより、論理シミュレータになんら改造を加えることなく、かつ論理シミュレーション実行の速度のオーバヘッドを最小にして機能カバレジの計測を行うことが可能となる。

請求項（抜粋）：

予め定義された検証対象論理回路の機能を表現した機能事象パターンデータを入力し、論理シミュレーション中の前記機能事象の発生回数を計測し、前記機能事象の発生状況データを出力する論理検証充分性評価方法において、前記機能事象の発生回数を計測する機能を持った仮想的な計測用論理回路データを予め作成する第1のステップと、検証対象論理回路データと前記仮想的な計測用論理回路データとを一括してシミュレーションして前記機能事象の発生回数を計測して機能事象の発生状況を出力する第2のステップとからなることを特徴とする論理検証充分性評価方法。

IPC (2件)：

G06F 17/50 ,  G06F 11/25

FI (2件)：

G06F 15/60 672 Z ,  G06F 11/26 310

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 論理回路の網羅率測定方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-229332   出願人：北陸日本電気ソフトウエア株式会社
• 特開平4-289974
  
• 特開平3-041565