減衰全反射測定装置およびそれを用いた特定成分の測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：東島隆治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-229816
公開番号（公開出願番号）：特開平11-064216
出願日： 1997年08月26日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：

【要約】【課題】安いランニングコストで、高精度の測定が可能な減衰全反射測定装置を提供する。【解決手段】光源と、光源から入射した光を内部に進入させ、進入した光を表面で内部反射させる透明な板状のATR素子と、ATR素子より射出された光を検知する光検出器を備え、ATR素子が、光が内部反射する点に突出した突起部を有する。

請求項（抜粋）：

光源と、前記光源から入射した光を内部に進入させ、進入した前記光を表面で内部反射させる透明なATR素子と、前記ATR素子より出射された光を検知する光検出器を備え、前記ATR素子が、前記光が内部反射する箇所に突出した突起部を有する減衰全反射測定装置。

引用特許：

審査官引用 (8件)

非常に小さいサンプル接触面を持つ内反射体
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-136985 出願人：ドナルドダブリュースティング
赤外顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-133106 出願人：株式会社島津製作所
特開昭63-129980

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