電子部品検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西野卓嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-298242
公開番号（公開出願番号）：特開平7-151522
出願日： 1993年11月29日
公開日（公表日）： 1995年06月16日
要約：

【要約】【目的】電子部品の保持位置のばらつきに関しても、電子部品のサイズの差に関しても、許容度の大きい電子部品検査装置を提供する。【構成】電子部品保持装置11に保持された電子部品1は、カメラ16、17により異なる角度から撮影され、二通りの像を生じる。その像を画像処理装置21で合成して3次元像を形成し、その3次元像の解析により、どのリ-ド2に浮きが発生しているか、変形量はいくらかを知る。

請求項（抜粋）：

以下の構成を備えた電子部品検査装置。a.電子部品保持装置。b.前記電子部品保持装置に保持された電子部品のリ-ドを異なる角度から撮影する2台のカメラ。c.前記2台のカメラで得た映像を合成して3次元像を形成し、その3次元像を解析してリ-ドの変形量を求める画像処理装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 , G01N 21/88 , H05K 13/08

引用特許：

審査官引用 (5件)

リード形状計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-186533 出願人：株式会社東芝
特開昭63-032302
特開昭59-112207

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