特許
J-GLOBAL ID：200903091445910326
温度検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-175179
公開番号（公開出願番号）：特開2006-349466
出願日： 2005年06月15日
公開日（公表日）： 2006年12月28日
要約：
【課題】ダイオードの両端電圧に基づいて、温度検出対象の温度を検出する装置において、ダイオードのオープン故障を検出する。 【解決手段】ダイオードD1は、温度検出対象であるIGBT10の近傍に設けられる。IGBT10の温度が所定温度より高くなると、ダイオードD1の温度上昇に伴って、ダイオードD1の両端電圧が低下するので、コンパレータ2の出力信号は、HiレベルからLoレベルに変わる。ここで、ダイオードD1のオープン故障が発生すると、ダイオードD1と並列に接続されている抵抗回路30に流れる電流I3が増加するので、NチャネルMOSFET20がオンする。これにより、コンパレータ2から出力されてコントローラ40に入力される信号は、異常が発生したことを示すLoレベルになる。 【選択図】図1
請求項（抜粋）：
温度検出対象の近傍にダイオードを設けて電流を供給し、前記ダイオードの順方向電圧に基づいて、温度検出対象の温度を検出する温度検出装置において、
前記ダイオードと並列に接続された抵抗回路と、
前記抵抗回路に流れる電流に基づいて、前記ダイオードのオープン故障を検出する故障検出手段とを備えることを特徴とする温度検出装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
出願人引用 (1件)
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電動機制御装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-130676
出願人：三菱電機株式会社
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