特許
J-GLOBAL ID:200903091621827660

ICカード及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山口 邦夫 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-198143
公開番号(公開出願番号):特開2001-022912
出願日: 1999年07月12日
公開日(公表日): 2001年01月26日
要約:
【要約】【課題】 反応型ホットメルト接着剤層中のイソシアネート基の硬化反応が安定した、しかも、基板変形やシートはがれ等のない安定した物性のカードを形成できるようにする。【解決手段】 第1のシート材と第2のシート材との間に介在される反応型ホットメルト接着剤層内にICモジュールを封入するICカードにおいて、この反応型ホットメルト接着剤層中の未反応イソシアネート基の量が、反応したイソシアネート基の量の5%以下であるものである。この構成によって、反応型ホットメルト接着剤層中のイソシアネート基の硬化反応が安定した、しかも、基板変形やシートはがれ等のない安定した物性のICカードを提供することができる。
請求項(抜粋):
第1のシート材と第2のシート材との間に介在される反応型ホットメルト接着剤層内にICモジュールを封入するICカードにおいて、前記反応型ホットメルト接着剤層中の未反応イソシアネート基の量が、反応したイソシアネート基の量の5%以下であることを特徴するICカード。
IPC (3件):
G06K 19/07 ,  B42D 15/10 521 ,  G06K 19/077
FI (3件):
G06K 19/00 H ,  B42D 15/10 521 ,  G06K 19/00 K
Fターム (16件):
2C005MA32 ,  2C005MB01 ,  2C005MB08 ,  2C005NA09 ,  2C005NB26 ,  2C005PA18 ,  2C005RA04 ,  2C005RA10 ,  2C005SA14 ,  2C005TA22 ,  5B035AA08 ,  5B035BA00 ,  5B035BB09 ,  5B035BC01 ,  5B035CA03 ,  5B035CA23
引用特許:
審査官引用 (2件)

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