特許
J-GLOBAL ID:200903091621827660
ICカード及びその製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山口 邦夫 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-198143
公開番号(公開出願番号):特開2001-022912
出願日: 1999年07月12日
公開日(公表日): 2001年01月26日
要約:
【要約】【課題】 反応型ホットメルト接着剤層中のイソシアネート基の硬化反応が安定した、しかも、基板変形やシートはがれ等のない安定した物性のカードを形成できるようにする。【解決手段】 第1のシート材と第2のシート材との間に介在される反応型ホットメルト接着剤層内にICモジュールを封入するICカードにおいて、この反応型ホットメルト接着剤層中の未反応イソシアネート基の量が、反応したイソシアネート基の量の5%以下であるものである。この構成によって、反応型ホットメルト接着剤層中のイソシアネート基の硬化反応が安定した、しかも、基板変形やシートはがれ等のない安定した物性のICカードを提供することができる。
請求項(抜粋):
第1のシート材と第2のシート材との間に介在される反応型ホットメルト接着剤層内にICモジュールを封入するICカードにおいて、前記反応型ホットメルト接着剤層中の未反応イソシアネート基の量が、反応したイソシアネート基の量の5%以下であることを特徴するICカード。
IPC (3件):
G06K 19/07
, B42D 15/10 521
, G06K 19/077
FI (3件):
G06K 19/00 H
, B42D 15/10 521
, G06K 19/00 K
Fターム (16件):
2C005MA32
, 2C005MB01
, 2C005MB08
, 2C005NA09
, 2C005NB26
, 2C005PA18
, 2C005RA04
, 2C005RA10
, 2C005SA14
, 2C005TA22
, 5B035AA08
, 5B035BA00
, 5B035BB09
, 5B035BC01
, 5B035CA03
, 5B035CA23
引用特許:
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