特許

J-GLOBAL ID：200903091631275363

撮像素子試験方法及び装置

発明者： 藤原 勝美 ,  芳賀 進 ,  鴫原 武夫 ,  赤崎 裕ニ
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (2件)： 井島 藤治 ,  鮫島 信重
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-432881
公開番号（公開出願番号）：特開2005-191387
出願日： 2003年12月26日
公開日（公表日）： 2005年07月14日
要約：

【課題】 本発明は撮像素子試験方法及び装置に関し、被試験素子を試験台に取り付けた状態で各種の試験を1ステージで自動的に行なうことを目的としている。【解決手段】 撮像素子の電気試験、画像試験、レンズの焦点合わせ・固定を行なうための撮像素子試験装置であって、被試験素子2の焦点調整を自動で行なう自動焦点調整機構20と、被試験素子2の画像読み取り機能を試験するためのパターンを表示する画像試験用表示ユニット23と、被試験素子2の電気試験、画像試験を行なう電気試験・画像試験ユニットと22、フリッカ試験を行なうためのフリッカ試験手段27と、前記各種構成要素を必要に応じて移動させる移動手段と、全体の動作を制御するためのシステム制御ユニット30とを具備して構成する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

試験台上に被試験撮像素子を装着し、装着された被試験撮像素子に対して、電気試験を行ない、その後自動焦点調整を行ない、その後画像試験を行ない、その後フリッカ試験を行ない、その後レンズの固定を行ない、その後被試験撮像素子の組み立て寸法を測定する、 ことを1ステージで行なうようにしたことを特徴とする撮像素子試験方法。

IPC (3件)：

H01L27/14 ,  G01M11/00 ,  H04N17/00

FI (4件)：

H01L27/14 Z ,  G01M11/00 T ,  H04N17/00 K ,  H01L27/14 D

Fターム (13件)：

2G086EE10 ,  4M118AA05 ,  4M118AA09 ,  4M118AA10 ,  4M118AB01 ,  4M118BA10 ,  4M118BA14 ,  4M118GC08 ,  4M118GD03 ,  4M118GD04 ,  4M118GD07 ,  5C061BB01 ,  5C061BB15

引用特許：

出願人引用 (1件)

• CCD試験装置システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-044148   出願人：株式会社アドバンテスト