特許

J-GLOBAL ID：200903091925344240

自動分析装置

発明者： 高橋 克明 ,  西田 正治
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ ,  株式会社日立サイエンスシステムズ
代理人 (2件)： 作田 康夫 ,  井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-393231
公開番号（公開出願番号）：特開2005-156272
出願日： 2003年11月25日
公開日（公表日）： 2005年06月16日
要約：

【課題】 自動再検が可能で、検体の他装置への開放が早い自動分析装置,検体前希釈が容易で試料の微量化が図れる自動分析装置を提供する。【解決手段】 円周上に複数の反応容器を列状に並べた反応ディスクと、該反応ディスク上の反応容器に試料を分注する試料分注機構と、を備えた自動分析装置において、前記試料分注機構が試料を分注する分注ノズルと、該分注ノズルを支持する支持機構からなり、該支持機構が前記反応ディスクの反応容器列の円周内に配置されている自動分析装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

円周上に複数の反応容器を列状に並べた反応ディスクと、 該反応ディスク上の反応容器に試料を分注する試料分注機構と、 を備えた自動分析装置において、 前記試料分注機構が試料を分注する分注ノズルと、該分注ノズルを支持する支持機構からなり、該支持機構が前記反応ディスクの反応容器列の円周内に配置されていることを特徴とする自動分析装置。

IPC (3件)：

G01N35/10 ,  G01N35/02 ,  G01N35/04

FI (4件)：

G01N35/06 B ,  G01N35/02 J ,  G01N35/04 A ,  G01N35/06 C

Fターム (8件)：

2G058AA08 ,  2G058BA01 ,  2G058CD04 ,  2G058CD15 ,  2G058EA02 ,  2G058ED04 ,  2G058ED05 ,  2G058ED08

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 自動分析装置及び自動分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-314795   出願人：株式会社日立製作所
• 特公平4-7956号公報
  

審査官引用 (2件)

• 特開平3-065654
  
• 特開平4-372859