特許

J-GLOBAL ID：200903091951588548

X線異物検査装置

発明者： 宇野 正幸 ,  株本 隆司
出願人/特許権者： 株式会社イシダ
代理人 (2件)： 杉本 修司 ,  野田 雅士
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-349596
公開番号（公開出願番号）：特開2005-062205
出願日： 2004年12月02日
公開日（公表日）： 2005年03月10日
要約：

【課題】 装置からのX線の外部漏洩を効果的に抑制できるX線異物検査装置を提供する。【解決手段】 物品Mを搬送コンベア2で搬送しながらX線源3からのX線による物品M中の異物検査を行う検査装置であって、前記搬送コンベア2による搬送経路上に位置する開口部11、11に着脱自在に垂設された帯状のX線遮蔽カーテン18を備えている。【選択図】 図6

請求項（抜粋）：

物品を搬送コンベアで搬送しながらX線源からのX線による物品中の異物検査を行うX線異物検査装置であって、 前記装置の一部分が開放されてX線の外部に対する非遮蔽状態であることを検知する開放検知器と、 前記X線の非遮蔽状態の検知に基づいて前記X線源からのX線の照射を停止させる照射停止手段を備えたX線異物検査装置。

IPC (1件)：

G01N23/04

FI (1件)：

G01N23/04

Fターム (9件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001LA02 ,  2G001PA11 ,  2G001SA04 ,  2G001SA14

引用特許：

審査官引用 (1件)

• X線検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-204722   出願人：株式会社日立製作所, 日立多賀エンジニアリング株式会社