特許

J-GLOBAL ID：200903091967173240

浮遊粉塵検知器検査装置

発明者： 長沢 直也
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 安藤 淳二 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-291786
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098625
出願日： 2000年09月26日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：

【要約】【課題】 比較的小型の循環槽において長期間にわたって濃度検出手段のメンテナンス交換をすることなく、正確に浮遊微粒子濃度の検出のできる浮遊粉塵検知器検査装置を提供すること。【解決手段】 循環槽2内に設けられる浮遊微粒子生成手段3と、該循環槽2内部の浮遊微粒子濃度の検出をおこなう濃度検出手段4とを備えた浮遊粉塵検知器6の作動検査をおこなう浮遊粉塵検知器検査装置である。濃度検出手段4を、前記循環槽2内部の浮遊微粒子通過経路Aに略直交するよう配設された所定幅をもったレーザービーム光Bを発射する投光部41と、投光部41から入射する光の遮光体による遮光幅と対応するアナログ信号出力をする受光部42とを有する光学式測長センサ装置4とする。

請求項（抜粋）：

循環槽内に設けられる浮遊微粒子生成手段と、該循環槽内部の浮遊微粒子濃度の検出をおこなう濃度検出手段とを備えた浮遊粉塵検知器の作動検査をおこなう浮遊粉塵検知器検査装置であって、前記濃度検出手段を、前記循環槽内部の浮遊微粒子通過経路に略直交するよう配設された所定幅をもったレーザービーム光を発射する投光部と、投光部から入射する光の遮光体による遮光幅と対応するアナログ信号出力をする受光部とを有する光学式測長センサ装置としたことを特徴とする浮遊粉塵検知器検査装置。

IPC (3件)：

G01N 15/06 ,  G01N 21/49 ,  G08B 17/10

FI (4件)：

G01N 15/06 D ,  G01N 15/06 C ,  G01N 21/49 Z ,  G08B 17/10 L

Fターム (15件)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC19 ,  2G059DD05 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059KK01 ,  2G059MM03 ,  5C085AA03 ,  5C085AB01 ,  5C085CA07 ,  5C085CA11 ,  5C085FA23

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 煙感知器検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-357741   出願人：松下電工株式会社
• 浮遊粒子濃度計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-120285   出願人：富士電機株式会社