特許

J-GLOBAL ID：200903092018468023

対象を分類するコンピュータ断層撮影装置および方法

発明者： クロウフォード,カール, アール. ,  ヒラオグル,ムザファー ,  ベクワチ,イブラヒム ,  シマノフスキイ,セルゲイ
出願人/特許権者： アナロジック コーポレーション
代理人 (1件)： 岡部 正夫 (外11名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-531792
公開番号（公開出願番号）：特表2002-503816
出願日： 1999年01月25日
公開日（公表日）： 2002年02月05日
要約：

【要約】コンピュータ断層撮影(CT)データで対象(112)を検出する方法および装置(100)を開示する。シート状爆発物などのシート形対象は、試験ボクセルの密度およびその近傍ボクセルの平均密度を分析することによって検出することができる。シート状対象は、侵食および膨張操作によっても検出することができる。対象の平均侵食密度を使用した訂正質量を計算し、質量閾値と比較して、脅威を与えるかに関して対象を分類することができる。塊状対象は、一連の侵食および膨張ステップを実行して、個々にラベルを貼り、分析できるようデータの隣接する対象を分離する、修正形態学的接続コンポーネントラベル貼付(CCL)アプローチで検出することができる。システムは、液体を含む対象を識別することもできる。全体的な対象検出率および誤アラーム率を含め、全体的なシステム性能は、個々の対象検出率および/または誤アラーム率を調節することによって、調節することができる。

請求項（抜粋）：

ある領域のコンピュータ断層撮影(CT)データに表されるシート状対象を検出する方法であって、 CTデータで複数の体積要素を識別することを含み、各体積要素は密度値と関連し、さらに、 各体積要素について、体積要素に近接する複数の近傍体積要素を選択することと、 複数の近傍体積要素に関連する密度値の平均密度を計算することと、 体積要素に関連する密度値と平均密度との差を計算することと、 計算した差を所定の閾値差と比較することと、 計算した差が所定の閾値差を上回る場合は、体積要素にシート状対象に関連するというラベルを貼ることを含む方法。

IPC (4件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/06 ,  G06F 19/00 ,  G06T 7/60 150

FI (4件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/06 ,  G06T 7/60 150 Z ,  G06F 15/42

Fターム (29件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA07 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA08 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA09 ,  2G001JA11 ,  2G001KA01 ,  2G001KA06 ,  2G001LA10 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  5L096AA06 ,  5L096AA09 ,  5L096BA06 ,  5L096BA13 ,  5L096DA03 ,  5L096EA02 ,  5L096FA32 ,  5L096GA06 ,  5L096GA19 ,  5L096GA34

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 鮪の品質判定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-217834   出願人：日立プラント建設株式会社
• 鋳造部品の品質判定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-150471   出願人：本田技研工業株式会社
• 特開平3-170085
  
• 特開昭63-062074