特許
J-GLOBAL ID：200903092044844106

イムノクロマト法試薬用標識シリカナノ粒子、イムノクロマト法試薬、それを用いたイムノクロマト法用テストストリップ、及びイムノクロマト法用蛍光検出システム

発明者：
會澤 英樹

會澤 英樹 について

, 
大久保 典雄

大久保 典雄 について


出願人/特許権者：
古河電気工業株式会社

古河電気工業株式会社 について


代理人 (3件)： 飯田 敏三 ,  佐々木 渉 ,  宮前 尚祐
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-153366
公開番号（公開出願番号）：特開2008-304401
出願日： 2007年06月08日
公開日（公表日）： 2008年12月18日
要約：
【課題】含有される標識物質を変えることで様々な色相、蛍光波長等を付与することができ、かつ凝集等によっても黒ずんだ色にならないイムノクロマト用標識シリカナノ粒子、及び、前記シリカナノ粒子を、検体を認識する物質で表面修飾してなるイムノクロマト法試薬を提供することにある。 前記イムノクロマト法試薬を用いてなるイムノクロマト法用テストストリップを提供することにある。前記標識物質として蛍光物質を用いたイムノクロマト法試薬を用いたイムノクロマト法用蛍光検出システムを提供することにある。【解決手段】標識物質を含有してなるシリカナノ粒子からなるイムノクロマト法試薬用標識シリカナノ粒子。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
標識物質を含有してなるシリカナノ粒子からなる、イムノクロマト法試薬用標識シリカナノ粒子。
IPC (4件)：
G01N 33/552 ,  G01N 33/543 ,  G01N 33/536 ,  G01N 21/78
FI (4件)：
G01N33/552 ,  G01N33/543 521 ,  G01N33/536 D ,  G01N21/78 C
Fターム (9件)：
2G054AA06 ,  2G054AB04 ,  2G054BB04 ,  2G054CA23 ,  2G054CE02 ,  2G054EA03 ,  2G054EB01 ,  2G054GA04 ,  2G054GB02
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)

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