特許
J-GLOBAL ID:200903092070088026

小片の品質分析のために小片を照射する装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 吉武 賢次 ,  永井 浩之 ,  岡田 淳平 ,  勝沼 宏仁
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-521341
公開番号(公開出願番号):特表2005-500533
出願日: 2002年07月19日
公開日(公表日): 2005年01月06日
要約:
穀類および農作物等からの穀粒のような小片の品質分析のために、小片を照射する装置は、サンプルホルダーを有し、それぞれ少なくとも1つの小片を有する小片サンプル(2)をサンプルホルダー内に載置するとともに小片サンプル(2)を照射位置(34)へ移送するようになっているサンプル送り込み支持機構(30)を備えている。装置は、小片サンプル(2)に照射する電磁放射線を放つ放射線機構(36)と、放射線ガイド(22)とをさらに備えている。放射線ガイド(22)は、サンプル送り込み支持機構(30)に取り付けられ、小片サンプル(2)が照射位置(34)へ送り込まれた場合に、放射線機構(36)により放たれた放射線をサンプルホルダー(1)内の小片サンプルへ導く。
請求項(抜粋):
穀類および農作物等からの穀粒のような小片の品質分析のために、小片を照射する装置おいて、 サンプルホルダー(1)を有し、それぞれ少なくとも1つの小片を有する小片サンプル(2)をサンプルホルダー(1)内に載置するとともに小片サンプル(2)を照射位置(34)へ移送するようになっているサンプル送り込み支持機構(30)と、 小片サンプル(2)に照射する電磁放射線を放つ放射線機構(36)と、 サンプル送り込み支持機構(30)に取り付けられ、小片サンプル(2)が照射位置(34)へ送り込まれた場合に、放射線機構(36)により放たれた放射線をサンプルホルダー(1)内の小片サンプルへ導く放射線ガイド(22)とを備えたことを特徴とする小片を照射する装置。
IPC (1件):
G01N21/85
FI (1件):
G01N21/85 A
Fターム (9件):
2G051AA04 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA08 ,  2G051BB17 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA17 ,  2G051EC01
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 胴割れ米の検出方法と装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-107086   出願人:株式会社ニレコ
  • 米粒判別装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-208646   出願人:株式会社ケット科学研究所
  • 特開昭57-186159
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